Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем
диссертация ... кандидата технических наук : 08.00.20
диссертация ... кандидата технических наук : 08.00.20
Мытищи, 1992
Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем
диссертация ... кандидата технических наук : 08.00.20
Мытищи, 1992
Библиографическое описание
Скопировать
Голубев, Владимир Владимирович. Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем : диссертация ... кандидата технических наук : 08.00.20. — Мытищи, 1992. — 232 с. : ил..
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_000177368
Каталог
Автор(ы)
Заглавие
Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем : диссертация . кандидата технических наук : 08.00.20
Место издания
Мытищи
Год издания
1992
Объем
232 с.
ББК
з844.15-06-7с,0
Язык
Русский
Еще
Библиотека
LDR
01344nam a2200277 i 4500
001
000177368
003
RuMoRGB
005
20150528134851.0
008
980424s1992 ru |||| m |00 u rus d
017
##
$a: д8047-93
$b: RuMoRGB
$a: д8047-93
$b: RuMoRGB
035
##
$a: (RuMoRGB)DIS-0366110
$a: (RuMoRGB)DIS-0366110
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
041
##
$a: rus
$a: rus
072
#1
$a: 08.00.20
$2: nsnr
$a: 08.00.20
$2: nsnr
084
##
$a: з844.15-06-7с,0
$2: rubbk
$a: з844.15-06-7с,0
$2: rubbk
100
1#
$a: Голубев, Владимир Владимирович
$a: Голубев, Владимир Владимирович
245
##
$a: Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем :
$b: диссертация ... кандидата технических наук : 08.00.20
$a: Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем :
$b: диссертация ... кандидата технических наук : 08.00.20
260
##
$a: Мытищи
$c: 1992
$a: Мытищи
$c: 1992
300
##
$a: 232 с.
$b: ил.
$a: 232 с.
$b: ил.
504
##
$a: Библиогр.: с. 168-179
$a: Библиогр.: с. 168-179
506
##
$a: Для служебного пользования.
$a: Для служебного пользования.
650
#1
$a: Экономика стандартизации и управления качеством продукции
$2: nsnr
$a: Экономика стандартизации и управления качеством продукции
$2: nsnr
787
11
$w: 000264497
$i: Автореферат
$w: 000264497
$i: Автореферат
852
1#
$a: РГБ
$b: OD
$c: HL03
$j: 61 93-0/447
$x: 40
$a: РГБ
$b: OD
$c: HL03
$j: 61 93-0/447
$x: 40
LKR
##
$a: PAR
$l: RSL01
$b: 000264497
$m: Диссертация
$n: Автореферат
$a: PAR
$l: RSL01
$b: 000264497
$m: Диссертация
$n: Автореферат
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем : диссертация . кандидата технических наук : 08.00.20 » , автор — Голубев В.В.. Документ был опубликован в 1992 году. Место издания — Мытищи. Информация о документе предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5.