Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность
автореферат дис. ... доктора технических наук : 05.27.01
автореферат дис. ... доктора технических наук : 05.27.01
Воронеж, 1999
Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность
автореферат дис. ... доктора технических наук : 05.27.01
Воронеж, 1999
Библиографическое описание
Скопировать
Акулинин, Станислав Алексеевич. Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность : автореферат дис. ... доктора технических наук : 05.27.01. — Воронеж, 1999. — 32 с. : ил.
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_000209279
Каталог
Автор(ы)
Заглавие
Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность : автореферат дис. доктора технических наук : 05.27.01
Место издания
Воронеж
Год издания
1999
Объем
32 с.
Язык
Русский
Еще
Библиотека
LDR
01240nam a2200241 i 4500
001
000209279
003
RuMoRGB
005
20081022120000.0
008
081022s1999 ru a||| a |00 u rus d
035
##
$a: (RuMoEDL)-3d001510
$a: (RuMoEDL)-3d001510
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
041
##
$a: rus
$a: rus
072
#1
$a: 05.27.01
$2: nsnr
$a: 05.27.01
$2: nsnr
100
1#
$a: Акулинин, Станислав Алексеевич
$a: Акулинин, Станислав Алексеевич
245
##
$a: Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность :
$b: автореферат дис. ... доктора технических наук : 05.27.01
$a: Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность :
$b: автореферат дис. ... доктора технических наук : 05.27.01
260
##
$a: Воронеж
$c: 1999
$a: Воронеж
$c: 1999
300
##
$a: 32 с.
$b: ил
$a: 32 с.
$b: ил
650
#1
$a: Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
$2: nsnr
$a: Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника
$2: nsnr
787
11
$w: 000240067
$i: Диссертация
$w: 000240067
$i: Диссертация
856
11
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01000000000/rsl01000209000/rsl01000209279/rsl01000209279.pdf
$y: Читать
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01000000000/rsl01000209000/rsl01000209279/rsl01000209279.pdf
$y: Читать
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность : автореферат дис. доктора технических наук : 05.27.01 » , автор — Акулинин С.А.. Документ был опубликован в 1999 году. Место издания — Воронеж. Электронный ресурс – электронная копия документа предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5. На сайте rusneb.ru Вы можете читать онлайн оцифрованную версию документа « Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность : автореферат дис. доктора технических наук : 05.27.01 » в удобной системе просмотра документов. Документ также доступен для скачивания в форматах: pdf.