Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем
автореферат дис. ... кандидата технических наук : 08.00.20
автореферат дис. ... кандидата технических наук : 08.00.20
Москва, 1993
Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем
автореферат дис. ... кандидата технических наук : 08.00.20
Москва, 1993
Библиографическое описание
Скопировать
Голубев, Владимир Владимирович. Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 08.00.20. — Москва, 1993. — 17 с. : ил.
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_000264497
Каталог
Автор(ы)
Заглавие
Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем : автореферат дис. кандидата технических наук : 08.00.20
Место издания
Москва
Год издания
1993
Объем
17 с.
Язык
Русский
Еще
Библиотека
LDR
01255nam a2200241 i 4500
001
000264497
003
RuMoRGB
005
20081210120000.0
008
081210s1993 ru a||| a |00 u rus d
035
##
$a: (RuMoEDL)-2k022225
$a: (RuMoEDL)-2k022225
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
041
##
$a: rus
$a: rus
072
#1
$a: 08.00.20
$2: nsnr
$a: 08.00.20
$2: nsnr
100
1#
$a: Голубев, Владимир Владимирович
$a: Голубев, Владимир Владимирович
245
##
$a: Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем :
$b: автореферат дис. ... кандидата технических наук : 08.00.20
$a: Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем :
$b: автореферат дис. ... кандидата технических наук : 08.00.20
260
##
$a: Москва
$c: 1993
$a: Москва
$c: 1993
300
##
$a: 17 с.
$b: ил
$a: 17 с.
$b: ил
650
#1
$a: Стандартизация и управление качеством продукции
$2: nsnr
$a: Стандартизация и управление качеством продукции
$2: nsnr
787
11
$w: 000177368
$i: Диссертация
$w: 000177368
$i: Диссертация
856
11
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01000000000/rsl01000264000/rsl01000264497/rsl01000264497.pdf
$y: Читать
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01000000000/rsl01000264000/rsl01000264497/rsl01000264497.pdf
$y: Читать
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем : автореферат дис. кандидата технических наук : 08.00.20 » , автор — Голубев В.В.. Документ был опубликован в 1993 году. Место издания — Москва. Электронный ресурс – электронная копия документа предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5. На сайте rusneb.ru Вы можете читать онлайн оцифрованную версию документа « Исследование и разработка методов повышения эффективности контроля качества и надежности при производстве интегральных микросхем : автореферат дис. кандидата технических наук : 08.00.20 » в удобной системе просмотра документов. Документ также доступен для скачивания в форматах: pdf.