Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов
Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук
Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук
Киев : б. и., 1967
Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов
Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук
Киев : б. и., 1967
Библиографическое описание
Скопировать
Попеначенко, В. И.. Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов [Текст] : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук / Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции. — Киев : [б. и.], 1967. — 25 с..
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_006451730
Каталог
Автор(ы)
Заглавие
Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук
Место издания
Киев
Издательство
Год издания
1967
Объем
25 с.
Ответственность
Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции
Язык
Русский
Еще
Библиотека
LDR
01255nam a22002412i 4500
001
006451730
005
20121029130101.0
008
121029s1967 ru ||||| |||||||| ||rus d
017
##
$a: 68-3141
$b: RuMoRKP
$a: 68-3141
$b: RuMoRKP
035
##
$a: (RuMoELAR)1946-68-862394
$a: (RuMoELAR)1946-68-862394
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: ELAR
$e: rcr
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: ELAR
$e: rcr
041
##
$a: rus
$a: rus
044
##
$a: ru
$a: ru
100
1#
$a: Попеначенко, В. И.
$a: Попеначенко, В. И.
245
##
$a: Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов
$h: [Текст] :
$b: Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук
$c: Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции
$a: Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов
$h: [Текст] :
$b: Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук
$c: Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции
260
##
$a: Киев
$b: [б. и.]
$c: 1967
$a: Киев
$b: [б. и.]
$c: 1967
300
##
$a: 25 с.
$a: 25 с.
504
##
$a: Библиогр. в конце книги
$a: Библиогр. в конце книги
787
11
$w: 010307197
$i: Диссертация
$w: 010307197
$i: Диссертация
852
1#
$a: РГБ
$b: FB
$c: D13S
$j: Др 156/760
$x: 90
$a: РГБ
$b: FB
$c: D13S
$j: Др 156/760
$x: 90
852
1#
$a: РГБ
$b: FBKHM
$c: HMK
$j: Др 156/761
$x: 93
$a: РГБ
$b: FBKHM
$c: HMK
$j: Др 156/761
$x: 93
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов : Специальность 298 - полупроводниковые приборы и их технология : Автореферат дис. на соискание ученой степени кандидата технических наук » , автор — Попеначенко В. И.. Документ был опубликован в 1967 году. Место издания — Киев. Издательство — б. и.. Информация о документе предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5.