Версия для слепых
Методы контроля параметров и технической диагностики МДП транзисторов и интегральных схем
Методы контроля параметров и технической диагностики МДП транзисторов и интегральных схем

Методы контроля параметров и технической диагностики МДП транзисторов и интегральных схем

Киев
Место издания
Год издания

Описание документа

Код документа в НЭБ
000199_000009_008101953
Автор
Соловьев Иван Иванович
Заглавие
Методы контроля параметров и технической диагностики МДП транзисторов и интегральных схем
Место издания
Киев
Год издания
1991

MARC-запись (MARC21)

017
##
$a: д24971-92
$b: RuMoRGB
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
041
##
$a: rus
072
#1
$a: 05.11.13
$2: nsnr
084
##
$a: з844.15,0
$2: rubbk
084
##
$a: з852.3,0
$2: rubbk
100
1#
$a: Соловьев, Иван Иванович
245
##
$a: Методы контроля параметров и технической диагностики МДП транзисторов и интегральных схем :
$b: диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.13
260
##
$a: Киев
$c: 1991
300
##
$a: 176 с.
$b: ил.
504
##
$a: Библиогр.: с. 138-148
506
##
$a: Для служебного пользования
650
#1
$a: Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий
$2: nsnr
852
1#
$a: РГБ
$b: OD
$j: 61 92-0/2671
$x: 81
979
##
$a: disser
$b: Каталог диссертаций
$c: rgb
Вы находитесь на новой версии портала Национальной Электронной Библиотеки. Если вы хотите воспользоваться старой версией, перейдите по ссылке .