Версия для слепых
Основы молекулярно-лучевой эпитаксии и методы исследования свойств тонких пленок
Основы молекулярно-лучевой эпитаксии и методы исследования свойств тонких пленок

Основы молекулярно-лучевой эпитаксии и методы исследования свойств тонких пленок

Год издания
Москва
Место издания

О произведении

Издательство
Ответственность
Пономарев Дмитрий Сергеевич, Хабибуллин Рустам Анварович, Глинский Игорь Андреевич, Зенченко Николай Владимирович ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский технологический университет" (МИРЭА)
Библиотека
Российская государственная библиотека (РГБ)
Вы находитесь на новой версии портала Национальной Электронной Библиотеки. Если вы хотите воспользоваться старой версией, перейдите по ссылке .