Применение сканирующей туннельной микроскопии для анализа морфологии поверхности и её модификации : автореферат дис. кандидата физико-математических наук : 01.04.10
Применение сканирующей туннельной микроскопии для анализа морфологии поверхности и её модификации : автореферат дис. кандидата физико-математических наук : 01.04.10
Алекперов, Султан Джабарович. Применение сканирующей туннельной микроскопии для анализа морфологии поверхности и её модификации : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 / Алекперов Султан Джабарович ; [Место защиты: Московский институт электронной техники]. — Москва, 1990. — 26 с. : ил..
Применение сканирующей туннельной микроскопии для анализа морфологии поверхности и её модификации : автореферат дис. кандидата физико-математических наук : 01.04.10
Место издания
Москва
Год издания
1990
Объем
26 с.
Ответственность
Алекперов Султан Джабарович ; [Место защиты: Московский институт электронной техники]
## $a: Применение сканирующей туннельной микроскопии для анализа морфологии поверхности и её модификации : $b: автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 $c: Алекперов Султан Джабарович ; [Место защиты: Московский институт электронной техники]
260
## $a: Москва $c: 1990
300
## $a: 26 с. $b: ил.
506
## $a: Для служ. пользования
650
#1 $a: физика полупроводников и диэлектриков $2: nsnr
720
1# $a: Московский институт электронной техники
852
## $a: РГБ $b: DSP $c: D09N $j: Др 90/1726 $x: 92
Пожалуйста, авторизуйтесь
Вы можете добавить книгу в избранное после того, как авторизуетесь на портале. Если у вас еще нет учетной записи, то зарегистрируйтесь.
Ссылка скопирована в буфер обмена
Вы так же можете поделиться напрямую в социальных сетях