Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
Кн. 2, Ч. 5
Кн. 2, Ч. 5
1983
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
Кн. 2, Ч. 5
1983
Библиографическое описание
Скопировать
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. — [Б. м.] : Электростандарт, 1983-, 1983. — 355 с. : ил., табл..
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_011601633
Каталог
Заглавие
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Кн. 2, Ч. 5
Год издания
1983
Объем
355 с.
Регистрационный номер
85-18745
ББК
З844.15-06-7я22, З852-06-7я22
Язык
Русский
Еще
Библиотека
LDR
01572nad a2200229 ic4500
001
011601633
005
20230313184234.0
008
230222s1983 ru rus d
017
##
$a: 85-18745
$a: 85-18745
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$e: rcr
$a: RuMoRGB
$b: rus
$e: rcr
041
##
$a: rus
$a: rus
044
##
$a: ru
$a: ru
084
##
$a: З844.15-06-7я22
$2: rubbk
$a: З844.15-06-7я22
$2: rubbk
084
##
$a: З852-06-7я22
$2: rubbk
$a: З852-06-7я22
$2: rubbk
245
##
$a: Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению
$a: Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению
260
##
$c: 1983
$c: 1983
300
##
$a: 355 с.
$b: ил., табл.
$a: 355 с.
$b: ил., табл.
336
##
$a: Текст (визуальный)
$a: Текст (визуальный)
337
##
$a: непосредственный
$a: непосредственный
773
#1
$7: nnam
$t: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
$d: [Б. м.] : Электростандарт, 1983-
$g: Кн. 2, Ч. 5
$w: 011628034
$7: nnam
$t: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
$d: [Б. м.] : Электростандарт, 1983-
$g: Кн. 2, Ч. 5
$w: 011628034
852
1#
$a: РГБ
$b: DSP
$c: D09N
$j: 22-85/644
$x: 92
$a: РГБ
$b: DSP
$c: D09N
$j: 22-85/644
$x: 92
LKR
##
$a: UP
$b: 011628034
$l: RSL01
$m: Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению
$n: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник
$a: UP
$b: 011628034
$l: RSL01
$m: Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению
$n: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Кн. 2, Ч. 5 » Документ был опубликован в 1983 году. Информация о документе предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5.