Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению (1983)

Библиографическое описание

Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. — [Б. м.] : Электростандарт, 1983-, 1983. — 355 с. : ил., табл..

Детальная информация

Код документа в НЭБ

000199_000009_011601633

Заглавие

Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению

Год издания

1983

Библиотека

Российская государственная библиотека (РГБ)

Еще

MARC-запись (MARC21)

LDR

01572nam a2200229 i 4500

001

011601633

005

20230313184234.0

008

230222s1983 ru rus d

017

##
$a: 85-18745

040

##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$e: rcr

041

##
$a: rus

044

##
$a: ru

084

##
$a: З844.15-06-7я22
$2: rubbk

084

##
$a: З852-06-7я22
$2: rubbk

245

##
$a: Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению

260

##
$c: 1983

300

##
$a: 355 с.
$b: ил., табл.

336

##
$a: Текст (визуальный)

337

##
$a: непосредственный

773

#1
$7: nnam
$t: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
$d: [Б. м.] : Электростандарт, 1983-
$g: Кн. 2, Ч. 5
$w: 011628034

852

1#
$a: РГБ
$b: DSP
$c: D09N
$j: 22-85/644
$x: 92

LKR

##
$a: UP
$b: 011628034
$l: RSL01
$m: Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению
$n: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник