LDR
01452nam0 2200325 i 450
010
##
$a: 978-5-025339-1
$9: 200
021
##
$a: RU
$b: 2009-19010
$9: 1129
035
##
$a: (nilc)RSL-KNO-004263240
100
##
$a: 20090318d2008 u y0rusy0150 ca
200
1#
$a: Стандартизация и метрология в нанотехнологиях
$f: В. В. Окрепилов
210
##
$a: Санкт-Петербург
$c: Наука
$d: 2008
215
##
$a: 263 с.
$c: ил., цв. ил.
$d: 21
320
##
$a: Библиогр.: с. 198-207 (166 назв.)
606
1#
$a: Наноэлектроника
$x: Стандартизация
$2: nlr_sh2
$3: RU\NLR\auth\661526369
606
1#
$a: Наноэлектроника
$x: Метрологическая служба
$2: nlr_sh2
$3: RU\NLR\auth\661525663
610
##
$a: Техника и технические науки (в целом) -- Общая технология. Основы промышленного производства -- Нанотехнология
700
#1
$a: Окрепилов
$b: В. В.
$f: 1944-
$g: Владимир Валентинович
$3: RU\NLR\AUTH\770132306
$4: 070
801
##
$a: RU
$b: РКП
$c: 20090318
$g: rcr
801
#1
$a: RU
$b: РГБ
$c: 20090318
801
#1
$a: RU
$b: NLR
$c: 20090507
$g: rcr
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Стандартизация и метрология в нанотехнологиях » , автор — В. В. Окрепилов. Документ был опубликован в 2008 году. Место издания — Санкт-Петербург. Издательство — Наука. Информация о документе предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская национальная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 191069, Россия, Санкт-Петербург, ул. Садовая, д. 18.