Кристаллография. 1967. Том 12, вып. 1 Электронографическое исследование структуры пленок SiO₂, полученных различными методами
Кристаллография. 1967. Том 12, вып. 1 Электронографическое исследование структуры пленок SiO₂, полученных различными методами
Библиографическое описание
Скопировать
Павлов, П.В.. Кристаллография. 1967. Том 12, вып. 1. Электронографическое исследование структуры пленок SiO₂, полученных различными методами / Павлов П.В., Шитова Э.В.. — с. 119-124.
Детальная информация
Код документа в НЭБ
005894_000147_002194949
Каталог
Автор(ы)
Заглавие
Кристаллография. 1967. Том 12, вып. 1 Электронографическое исследование структуры пленок SiO₂, полученных различными методами
Объем
с. 119-124
Ответственность
Павлов П.В., Шитова Э.В.
LDR
00889nab a2200253 c 4500
001
002194949
003
RuMoBEN
005
20240514115652.0
008
231124s1967 ru |||p|||||||||||||rus d
035
##
$a: (ELAR) [2023] 31187
$a: (ELAR) [2023] 31187
040
##
$a: RuMoBEN
$b: rus
$a: RuMoBEN
$b: rus
041
##
$a: rus
$a: rus
044
##
$a: ru
$a: ru
080
##
$a: 548.74
$2: ruudk
$a: 548.74
$2: ruudk
100
1#
$a: Павлов, П.В.
$a: Павлов, П.В.
700
1#
$a: Шитова, Э.В.
$a: Шитова, Э.В.
245
1#
$a: Электронографическое исследование структуры пленок SiO₂, полученных различными методами
$c: Павлов П.В., Шитова Э.В.
$a: Электронографическое исследование структуры пленок SiO₂, полученных различными методами
$c: Павлов П.В., Шитова Э.В.
300
##
$a: с. 119-124
$a: с. 119-124
773
##
$7: nnas
$t: Кристаллография. 1967. Том 12, вып. 1
$g: с. 119-124
$w: 000464577
$7: nnas
$t: Кристаллография. 1967. Том 12, вып. 1
$g: с. 119-124
$w: 000464577
850
##
$a: RuMoBEN
$a: RuMoBEN
856
11
$q: application/pdf
$u: https://viewer.benran.ru/ru/ben01002194949
$q: application/pdf
$u: https://viewer.benran.ru/ru/ben01002194949
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Кристаллография. 1967. Том 12, вып. 1 Электронографическое исследование структуры пленок SiO₂, полученных различными методами » , автор — Павлов П.В.. Электронный ресурс – электронная копия документа предоставлена в НЭБ библиотекой "Библиотека по естественным наукам Российской академии наук (БЕН РАН)". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119991, Москва, ул. Знаменка, д. 11/11. На сайте rusneb.ru Вы можете читать онлайн оцифрованную версию документа « Кристаллография. 1967. Том 12, вып. 1 Электронографическое исследование структуры пленок SiO₂, полученных различными методами » в удобной системе просмотра документов. Документ также доступен для скачивания в форматах: pdf, mrc.