Версия для слепых
Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия : : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.05
Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия : : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.05

Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия : : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.05

Москва
Место издания
Год издания

Состав

Описание документа

Код документа в НЭБ
000199_000009_003471586
Автор
Лебедев А.В.
Заглавие
Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия : : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.05
Место издания
Москва
Год издания
2009
Объем
32 с.
Ответственность
Лебедев Алексей Викторович; [Место защиты: Моск. физ.-техн. ин-т (гос. ун-т)]
ББК
З844.152.02-07с38,0
Ключевые слова
микроконтроллеры, микропроцессоры

Другие диссертации автора

Посмотреть все произведения автора

Выражаем благодарность библиотеке «Российская государственная библиотека (РГБ)» за предоставленный материал.

MARC-запись (MARC21)

017
##
$a: 09-13323А
$b: RuMoRKP
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
041
##
$a: rus
072
#1
$a: 05.13.05
$2: nsnr
084
##
$a: З844.152.02-07с38,0
$2: rubbk
100
1#
$a: Лебедев, Алексей Викторович
245
##
$a: Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия :
$b: автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.05
$c: Лебедев Алексей Викторович; [Место защиты: Моск. физ.-техн. ин-т (гос. ун-т)]
260
##
$a: Москва
$c: 2009
300
##
$a: 32 с.
650
#1
$a: Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления
$2: nsnr
650
#1
$a: Радиоэлектроника -- Радиотехника -- Микроэлектроника -- Интегральные схемы -- Интегральные схемы большие и сверхбольшие -- Цифровые интегральные схемы -- Испытание -- Применение ионизирующих излучений
$2: rubbk
653
##
$a: микроконтроллеры
653
##
$a: микропроцессоры
787
11
$w: 004366660
$i: Диссертация
852
##
$a: РГБ
$b: FB
$j: 9 09-4/623
$x: 90
856
11
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01003000000/rsl01003471000/rsl01003471586/rsl01003471586.pdf
$y: Читать
977
##
$a: dlopen
$b: dlrgb
$c: osk
$d: Отдел сканирования
979
##
$a: autoref
$b: Каталог авторефератов диссертаций
$c: rgb
979
##
$a: dlopen
Вы находитесь на новой версии портала Национальной Электронной Библиотеки. Если вы хотите воспользоваться старой версией, перейдите по ссылке .