Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания
автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01
автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01
Воронеж, 2019
Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания
автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01
Воронеж, 2019
Библиографическое описание
Скопировать
Винокуров, Александр Александрович. Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Винокуров Александр Александрович; [Место защиты: ФГБОУ ВО Воронежский государственный технический университет]. — Воронеж, 2019. — 20 с..
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_008585926
Каталог
Автор(ы)
Заглавие
Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания : автореферат дис. кандидата технических наук : 05.27.01
Место издания
Воронеж
Год издания
2019
Объем
20 с.
Ответственность
Винокуров Александр Александрович; [Место защиты: ФГБОУ ВО Воронежский государственный технический университет]
ББК
З844.15-07,0
Язык
Русский
Еще
Библиотека
LDR
02091nam a22003017 4500
001
008585926
003
RuMoRGB
005
20200916153320.0
008
190826s2019 ru |||| a |00 u rus d
017
##
$a: АР-П-19-006905
$b: RuMoRKP
$a: АР-П-19-006905
$b: RuMoRKP
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
041
##
$a: rus
$a: rus
072
#1
$a: 05.27.01
$2: nsnr
$a: 05.27.01
$2: nsnr
084
##
$a: З844.15-07,0
$2: rubbk
$a: З844.15-07,0
$2: rubbk
100
1#
$a: Винокуров, Александр Александрович
$a: Винокуров, Александр Александрович
245
##
$a: Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания :
$b: автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01
$c: Винокуров Александр Александрович; [Место защиты: ФГБОУ ВО Воронежский государственный технический университет]
$a: Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания :
$b: автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01
$c: Винокуров Александр Александрович; [Место защиты: ФГБОУ ВО Воронежский государственный технический университет]
260
##
$a: Воронеж
$c: 2019
$a: Воронеж
$c: 2019
300
##
$a: 20 с.
$a: 20 с.
541
1#
$c: RBT
$d: 20190822
$e: 2019.10.08.30
$c: RBT
$d: 20190822
$e: 2019.10.08.30
650
#1
$a: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
$2: nsnr
$a: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
$2: nsnr
650
#1
$a: Радиоэлектроника -- Радиотехника -- Радиоэлектронная аппаратура -- Микроэлектроника -- Интегральные схемы -- Измерения
$2: rubbk
$a: Радиоэлектроника -- Радиотехника -- Радиоэлектронная аппаратура -- Микроэлектроника -- Интегральные схемы -- Измерения
$2: rubbk
720
1#
$a: ФГБОУ ВО Воронежский государственный технический университет
$a: ФГБОУ ВО Воронежский государственный технический университет
787
11
$w: 008585927
$i: Диссертация
$w: 008585927
$i: Диссертация
852
1#
$a: РГБ
$b: OD
$c: HL04
$j: 9 19-5/1387
$x: 39
$a: РГБ
$b: OD
$c: HL04
$j: 9 19-5/1387
$x: 39
856
11
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01008000000/rsl01008585000/rsl01008585926/rsl01008585926.pdf
$y: Читать
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01008000000/rsl01008585000/rsl01008585926/rsl01008585926.pdf
$y: Читать
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания : автореферат дис. кандидата технических наук : 05.27.01 » , автор — Винокуров А.А.. Документ был опубликован в 2019 году. Место издания — Воронеж. Электронный ресурс – электронная копия документа предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5. На сайте rusneb.ru Вы можете читать онлайн оцифрованную версию документа « Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания : автореферат дис. кандидата технических наук : 05.27.01 » в удобной системе просмотра документов. Документ также доступен для скачивания в форматах: pdf.