LDR
02464nam a2200349 i 4500
008
200921s2020 ru |||| ||| | rus|d
017
##
$a: КН-П-20-056474
$b: RuMoRKP
020
##
$a: 978-5-7779-2487-2
$c: 50 экз.
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$e: rcr
084
##
$a: В338.28я73-1
$2: rubbk
245
##
$a: Методы сканирующей силовой микроскопии :
$b: учебное пособие
$c: Давлеткильдеев Надим Анварович, Лобов Иван Андреевич, Мосур Евгений Юрьевич, Соколов Денис Владимирович ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского
260
##
$a: Омск
$b: Изд-во Омского гос. ун-та
$c: 2020
300
##
$a: 44 с.
$b: ил.
$c: 21 см
336
##
$a: Текст (визуальный)
337
##
$a: непосредственный
500
##
$a: На обл. авт. не указаны
504
##
$a: Библиогр.: с. 44
650
#1
$a: Физико-математические науки -- Физика -- Электричество и магнетизм -- Движение заряженных частиц в электрическом и магнитном полях -- Электронная и ионная оптика -- Электронная и ионная микроскопия -- Учебник для высшей школы
$2: rubbk
653
##
$a: сканирующая силовая микроскопия
700
1#
$a: Давлеткильдеев, Надим Анварович
700
1#
$a: Лобов, Иван Андреевич
700
1#
$a: Мосур, Евгений Юрьевич
700
1#
$a: Соколов, Денис Владимирович
852
##
$a: РГБ
$b: FB
$j: 3 20-7/1367
$x: 90
856
11
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01010000000/rsl01010424000/rsl01010424946/rsl01010424946.pdf
$y: Читать