Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем
автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.12
автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.12
Москва, 2021
Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем
автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.12
Москва, 2021
Библиографическое описание
Скопировать
Смирнов, Константин Константинович. Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.12 / Смирнов Константин Константинович; [Место защиты: Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)]. — Москва, 2021. — 16 с..
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_010623442
Каталог
Автор(ы)
Заглавие
Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : автореферат дис. кандидата технических наук : 05.13.12
Место издания
Москва
Год издания
2021
Объем
16 с.
Ответственность
Смирнов Константин Константинович; [Место защиты: Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)]
ББК
З844.15-02-5-05,0
Язык
Русский
Еще
Библиотека
LDR
02203nam a22003017 4500
001
010623442
003
RuMoRGB
005
20220314132201.0
008
210520s2021 ru |||| a |00 u rus d
017
##
$a: АР-П-21-002645
$b: RuMoRKP
$a: АР-П-21-002645
$b: RuMoRKP
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
041
##
$a: rus
$a: rus
072
#1
$a: 05.13.12
$2: nsnr
$a: 05.13.12
$2: nsnr
084
##
$a: З844.15-02-5-05,0
$2: rubbk
$a: З844.15-02-5-05,0
$2: rubbk
100
1#
$a: Смирнов, Константин Константинович
$a: Смирнов, Константин Константинович
245
##
$a: Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем :
$b: автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.12
$c: Смирнов Константин Константинович; [Место защиты: Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)]
$a: Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем :
$b: автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.12
$c: Смирнов Константин Константинович; [Место защиты: Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)]
260
##
$a: Москва
$c: 2021
$a: Москва
$c: 2021
300
##
$a: 16 с.
$a: 16 с.
541
1#
$c: RBT
$d: 20210327
$e: 2021.05.27.57
$c: RBT
$d: 20210327
$e: 2021.05.27.57
650
#1
$a: Системы автоматизации проектирования
$2: nsnr
$a: Системы автоматизации проектирования
$2: nsnr
650
#1
$a: Радиоэлектроника -- Радиотехника -- Радиоэлектронная аппаратура -- Микроэлектроника -- Интегральные схемы -- Проектирование -- Автоматизация
$2: rubbk
$a: Радиоэлектроника -- Радиотехника -- Радиоэлектронная аппаратура -- Микроэлектроника -- Интегральные схемы -- Проектирование -- Автоматизация
$2: rubbk
720
1#
$a: ФГБОУ ВО «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»
$a: ФГБОУ ВО «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»
787
11
$w: 010623443
$i: Диссертация
$w: 010623443
$i: Диссертация
852
1#
$a: РГБ
$b: OD
$c: HL04
$j: 9 21-5/499
$x: 39
$a: РГБ
$b: OD
$c: HL04
$j: 9 21-5/499
$x: 39
856
11
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01010000000/rsl01010623000/rsl01010623442/rsl01010623442.pdf
$y: Читать
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01010000000/rsl01010623000/rsl01010623442/rsl01010623442.pdf
$y: Читать
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : автореферат дис. кандидата технических наук : 05.13.12 » , автор — Смирнов К.К.. Документ был опубликован в 2021 году. Место издания — Москва. Электронный ресурс – электронная копия документа предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5. На сайте rusneb.ru Вы можете читать онлайн оцифрованную версию документа « Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : автореферат дис. кандидата технических наук : 05.13.12 » в удобной системе просмотра документов. Документ также доступен для скачивания в форматах: pdf.