Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем
диссертация ... кандидата технических наук : 05.13.12
диссертация ... кандидата технических наук : 05.13.12
Москва, 2021
Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем
диссертация ... кандидата технических наук : 05.13.12
Москва, 2021
В полном объеме текст документа доступен в электронных читальных залах библиотек-участников НЭБ
Библиографическое описание
Скопировать
Смирнов, Константин Константинович. Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : диссертация ... кандидата технических наук : 05.13.12 / Смирнов Константин Константинович; [Место защиты: ФГБОУ ВО «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»]. — Москва, 2021. — 181 с. : ил..
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_010623443
Каталог
Автор(ы)
Заглавие
Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : диссертация . кандидата технических наук : 05.13.12
Место издания
Москва
Год издания
2021
Объем
181 с.
Ответственность
Смирнов Константин Константинович; [Место защиты: ФГБОУ ВО «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»]
ББК
З844.15-02-5-05,0
Язык
Русский
Еще
Библиотека
LDR
02351nam a22003377 4500
001
010623443
003
RuMoRGB
005
20220314132239.0
008
210520s2021 ru |||| a |00 u rus d
017
##
$a: д4738-21
$b: RuMoRGB
$a: д4738-21
$b: RuMoRGB
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
041
##
$a: rus
$a: rus
072
#1
$a: 05.13.12
$2: nsnr
$a: 05.13.12
$2: nsnr
084
##
$a: З844.15-02-5-05,0
$2: rubbk
$a: З844.15-02-5-05,0
$2: rubbk
100
1#
$a: Смирнов, Константин Константинович
$a: Смирнов, Константин Константинович
245
##
$a: Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем :
$b: диссертация ... кандидата технических наук : 05.13.12
$c: Смирнов Константин Константинович; [Место защиты: ФГБОУ ВО «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»]
$a: Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем :
$b: диссертация ... кандидата технических наук : 05.13.12
$c: Смирнов Константин Константинович; [Место защиты: ФГБОУ ВО «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»]
260
##
$a: Москва
$c: 2021
$a: Москва
$c: 2021
300
##
$a: 181 с.
$b: ил.
$a: 181 с.
$b: ил.
504
##
$a: Библиогр.: с. 168-174
$a: Библиогр.: с. 168-174
541
1#
$c: RBT
$d: 20210327
$e: 2021.05.27.57
$c: RBT
$d: 20210327
$e: 2021.05.27.57
541
1#
$c: OEK
$d: 20210623
$c: OEK
$d: 20210623
650
#1
$a: Системы автоматизации проектирования
$2: nsnr
$a: Системы автоматизации проектирования
$2: nsnr
650
#1
$a: Радиоэлектроника -- Радиотехника -- Радиоэлектронная аппаратура -- Микроэлектроника -- Интегральные схемы -- Проектирование -- Автоматизация
$2: rubbk
$a: Радиоэлектроника -- Радиотехника -- Радиоэлектронная аппаратура -- Микроэлектроника -- Интегральные схемы -- Проектирование -- Автоматизация
$2: rubbk
720
1#
$a: ФГБОУ ВО «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»
$a: ФГБОУ ВО «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»
787
11
$w: 010623442
$i: Автореферат
$w: 010623442
$i: Автореферат
852
1#
$a: РГБ
$b: OD
$c: HL03
$j: 61 21-5/991
$x: 39
$a: РГБ
$b: OD
$c: HL03
$j: 61 21-5/991
$x: 39
856
11
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01010000000/rsl01010623000/rsl01010623443/rsl01010623443.pdf
$y: Читать
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01010000000/rsl01010623000/rsl01010623443/rsl01010623443.pdf
$y: Читать
LKR
##
$a: PAR
$l: RSL01
$b: 010623442
$m: Диссертация
$n: Автореферат
$a: PAR
$l: RSL01
$b: 010623442
$m: Диссертация
$n: Автореферат
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : диссертация . кандидата технических наук : 05.13.12 » , автор — Смирнов К.К.. Документ был опубликован в 2021 году. Место издания — Москва. Электронный ресурс – электронная копия документа предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5. На сайте rusneb.ru Вы можете читать онлайн оцифрованную версию документа « Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : диссертация . кандидата технических наук : 05.13.12 » в удобной системе просмотра документов.