Версия для слепых
Исследование и разработка методики повышения стойкости высоковольтных КМОП микросхем к накопленной дозе радиации : диссертация . кандидата технических наук : 05.27.01
Исследование и разработка методики повышения стойкости высоковольтных КМОП микросхем к накопленной дозе радиации : диссертация . кандидата технических наук : 05.27.01
Москва, 2022

Исследование и разработка методики повышения стойкости высоковольтных КМОП микросхем к накопленной дозе радиации : диссертация . кандидата технических наук : 05.27.01

Москва, 2022
В полном объеме текст документа доступен в электронных читальных залах библиотек-участников НЭБ

Библиографическое описание

Скопировать
Нагорнов, Алексей Юрьевич. Исследование и разработка методики повышения стойкости высоковольтных КМОП микросхем к накопленной дозе радиации : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Нагорнов Алексей Юрьевич; [Место защиты: ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»]. — Москва, 2022. — 116 с. : ил..

Детальная информация

Код документа в НЭБ
000199_000009_011073445
Автор(ы)
Заглавие
Исследование и разработка методики повышения стойкости высоковольтных КМОП микросхем к накопленной дозе радиации : диссертация . кандидата технических наук : 05.27.01
Место издания
Москва
Год издания
2022
Объем
116 с.
Ответственность
Нагорнов Алексей Юрьевич; [Место защиты: ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»]
ББК
З844.15-029,0

MARC-запись (MARC21)

LDR
02412nam a22003377 4500
001
011073445
003
RuMoRGB
005
20221107102117.0
008
210330s2022 ru |||| m |00 u rus d
017
##
$a: д4372-22
$b: RuMoRGB
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
041
##
$a: rus
072
#1
$a: 05.27.01
$2: nsnr
084
##
$a: З844.15-029,0
$2: rubbk
100
1#
$a: Нагорнов, Алексей Юрьевич
245
##
$a: Исследование и разработка методики повышения стойкости высоковольтных КМОП микросхем к накопленной дозе радиации :
$b: диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01
$c: Нагорнов Алексей Юрьевич; [Место защиты: ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»]
260
##
$a: Москва
$c: 2022
300
##
$a: 116 с.
$b: ил.
504
##
$a: Библиогр.: с. 106-115
541
1#
$b: https://vak.minobrnauki.gov.ru/advert/100064283
$c: D11-7737
$d: 20220326
$e: 2022.04.26
541
1#
$c: OEK
$d: 20220512
650
#1
$a: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
$2: nsnr
650
#1
$a: Радиоэлектроника -- Радиоэлектронная аппаратура -- Микроэлектроника -- Интегральные схемы -- Проектирование -- Проектирование с учетом работы в особых условиях
$2: rubbk
720
1#
$a: ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»
787
11
$w: 011030250
$i: Автореферат
852
1#
$a: РГБ
$b: OD
$c: HL03
$j: 61 22-5/1017
$x: 81
856
11
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01011000000/rsl01011073000/rsl01011073445/rsl01011073445.pdf
$y: Читать
LKR
##
$a: PAR
$b: 011030250
$l: RSL01
$m: Диссертация
$n: Автореферат
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Исследование и разработка методики повышения стойкости высоковольтных КМОП микросхем к накопленной дозе радиации : диссертация . кандидата технических наук : 05.27.01 » , автор — Нагорнов А.Ю.. Документ был опубликован в 2022 году. Место издания — Москва. Электронный ресурс – электронная копия документа предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5. На сайте rusneb.ru Вы можете читать онлайн оцифрованную версию документа « Исследование и разработка методики повышения стойкости высоковольтных КМОП микросхем к накопленной дозе радиации : диссертация . кандидата технических наук : 05.27.01 » в удобной системе просмотра документов.
Вы находитесь на новой версии портала Национальной Электронной Библиотеки. Если вы хотите воспользоваться старой версией, перейдите по ссылке .