Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Дополнение
1983
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Дополнение
1983
Библиографическое описание
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов. Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Дополнение. — [Б. м.] : Электростандарт, 1983-, 1983. — 117 с. : ил., табл..
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_011601613
Каталог
Заглавие
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Дополнение
Год издания
1983
Объем
117 с.
ББК
З844.15-06-7я22, З852-06-7я22
Общее примечание
Указ.: с. 113
Еще
Библиотека
LDR
01679nam a2200253 i 4500
001
011601613
005
20230313184124.0
008
230222s1983 ru rus d
017
##
$a: 85-18744
$a: 85-18744
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$e: rcr
$a: RuMoRGB
$b: rus
$e: rcr
041
##
$a: rus
$a: rus
044
##
$a: ru
$a: ru
084
##
$a: З844.15-06-7я22
$2: rubbk
$a: З844.15-06-7я22
$2: rubbk
084
##
$a: З852-06-7я22
$2: rubbk
$a: З852-06-7я22
$2: rubbk
245
##
$a: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Дополнение
$a: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Дополнение
260
##
$c: 1983
$c: 1983
300
##
$a: 117 с.
$b: ил., табл.
$a: 117 с.
$b: ил., табл.
336
##
$a: Текст (визуальный)
$a: Текст (визуальный)
337
##
$a: непосредственный
$a: непосредственный
500
##
$a: Указ.: с. 113
$a: Указ.: с. 113
504
##
$a: Библиогр.: с. 117
$a: Библиогр.: с. 117
773
#1
$7: nnam
$t: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
$d: [Б. м.] : Электростандарт, 1983-
$g: Кн. 1, Ч. 1-4, Доп. № 1
$w: 011628034
$7: nnam
$t: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
$d: [Б. м.] : Электростандарт, 1983-
$g: Кн. 1, Ч. 1-4, Доп. № 1
$w: 011628034
852
1#
$a: РГБ
$b: DSP
$c: D09N
$j: 22-85/644
$x: 92
$a: РГБ
$b: DSP
$c: D09N
$j: 22-85/644
$x: 92
LKR
##
$a: UP
$b: 011628034
$l: RSL01
$m: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Дополнение
$n: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник
$a: UP
$b: 011628034
$l: RSL01
$m: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Дополнение
$n: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник