Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 2
1986
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 2
1986
Библиографическое описание
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов. Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 2. — [Б. м.] : Электростандарт, 1983-, 1986. — 154 с. : ил., табл..
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_011601655
Каталог
Заглавие
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 2
Год издания
1986
Объем
154 с.
ББК
З844.15-06-7я22, З852-06-7я22
Библиотека
LDR
01885nam a2200241 i 4500
001
011601655
005
20230314123155.0
008
230222s1986 ru rus d
017
##
$a: 86-49193
$a: 86-49193
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$e: rcr
$a: RuMoRGB
$b: rus
$e: rcr
041
##
$a: rus
$a: rus
044
##
$a: ru
$a: ru
084
##
$a: З844.15-06-7я22
$2: rubbk
$a: З844.15-06-7я22
$2: rubbk
084
##
$a: З852-06-7я22
$2: rubbk
$a: З852-06-7я22
$2: rubbk
245
##
$a: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 2
$a: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 2
260
##
$c: 1986
$c: 1986
300
##
$a: 154 с.
$b: ил., табл.
$a: 154 с.
$b: ил., табл.
336
##
$a: Текст (визуальный)
$a: Текст (визуальный)
337
##
$a: непосредственный
$a: непосредственный
504
##
$a: Библиогр.: с. 153-154
$a: Библиогр.: с. 153-154
773
#1
$7: nnam
$t: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
$d: [Б. м.] : Электростандарт, 1983-
$g: Кн. 1-2, Доп. № 2
$w: 011628034
$7: nnam
$t: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
$d: [Б. м.] : Электростандарт, 1983-
$g: Кн. 1-2, Доп. № 2
$w: 011628034
852
1#
$a: РГБ
$b: DSP
$c: D09N
$j: 22-85/644
$x: 92
$a: РГБ
$b: DSP
$c: D09N
$j: 22-85/644
$x: 92
LKR
##
$a: UP
$b: 011628034
$l: RSL01
$m: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 2
$n: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник
$a: UP
$b: 011628034
$l: RSL01
$m: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 2
$n: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник