Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 3
1988
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 3
1988
Библиографическое описание
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов. Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 3 / ответственные редакторы В. Ф. Гавриченков [и др.]. — [Б. м.] : Электростандарт, 1983-, 1988. — 119 c. : ил., табл..
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000199_000009_011601665
Каталог
Заглавие
Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 3
Год издания
1988
Объем
119 c.
Ответственность
ответственные редакторы В. Ф. Гавриченков [и др.]
ББК
З844.15-06-7я22, З852-06-7я22
Библиотека
LDR
02054nam a2200253 i 4500
001
011601665
005
20230322130712.0
008
230222s1988 ru rus d
017
##
$a: 88-75734
$a: 88-75734
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$e: rcr
$a: RuMoRGB
$b: rus
$e: rcr
041
##
$a: rus
$a: rus
044
##
$a: ru
$a: ru
084
##
$a: З844.15-06-7я22
$2: rubbk
$a: З844.15-06-7я22
$2: rubbk
084
##
$a: З852-06-7я22
$2: rubbk
$a: З852-06-7я22
$2: rubbk
245
##
$a: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 3
$c: ответственные редакторы В. Ф. Гавриченков [и др.]
$a: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 3
$c: ответственные редакторы В. Ф. Гавриченков [и др.]
260
##
$c: 1988
$c: 1988
300
##
$a: 119 c.
$b: ил., табл.
$a: 119 c.
$b: ил., табл.
336
##
$a: Текст (визуальный)
$a: Текст (визуальный)
337
##
$a: непосредственный
$a: непосредственный
504
##
$a: Библиогр.: с. 119
$a: Библиогр.: с. 119
700
1#
$a: Гавриченков, Владимир Федорович
$e: ред.
$a: Гавриченков, Владимир Федорович
$e: ред.
773
11
$7: nnam
$t: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
$d: [Б. м.] : Электростандарт, 1983-
$g: Кн. 1-2, Доп. № 3
$w: 011628034
$7: nnam
$t: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник / Министерство электронной промышленности СССР ; ответственные редакторы Н. Ф. Ковалев, И. П. Левашов
$d: [Б. м.] : Электростандарт, 1983-
$g: Кн. 1-2, Доп. № 3
$w: 011628034
852
1#
$a: РГБ
$b: DSP
$c: D09N
$j: 22-85/644
$x: 92
$a: РГБ
$b: DSP
$c: D09N
$j: 22-85/644
$x: 92
LKR
##
$a: UP
$b: 011628034
$l: RSL01
$m: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 3
$n: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник
$a: UP
$b: 011628034
$l: RSL01
$m: Методы, методики, средства контроля и анализа отказов. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению. Дополнение № 3
$n: Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : справочник