Исследование морфологии и электронных свойств поверхности пленок AIIIBv и контактов металл/АIIIBv методом атомно-силовой микроскопии автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук специальность 01.04.10 <Физика полупроводников>
Исследование морфологии и электронных свойств поверхности пленок AIIIBv и контактов металл/АIIIBv методом атомно-силовой микроскопии автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук специальность 01.04.10 <Физика полупроводников>
Исследование морфологии и электронных свойств поверхности пленок AIIIBv и контактов металл/АIIIBv методом атомно-силовой микроскопии автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук специальность 01.04.10 <Физика полупроводников>
1# $a: Исследование морфологии и электронных свойств поверхности пленок AIIIBv и контактов металл/АIIIBv методом атомно-силовой микроскопии $e: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук $e: специальность 01.04.10 <Физика полупроводников> $f: Новиков Вадим Александрович $g: [Том. гос. ун-т]
210
## $a: Томск $d: 2010
215
## $a: 18 с. $c: ил. $d: 21
320
## $a: Библиогр.: c. 17-18 (19 назв.)
325
## $a: Копия доступна в Электрон. б-ке РНБ
675
## $a: 537 $v: 3 $z: rus
686
## $a: 29.19 $2: rugasnti
686
## $a: 22.33 $2: rubbk
686
## $a: 01.04.10 $2: oksvnk
700
#1 $a: Новиков $b: В. А. $c: канд. физ.-мат. наук $g: Вадим Александрович $3: RU\NLR\AUTH\770167799 $4: 070