Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математческих наук специальность 01.04.05 <Оптика>
Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математческих наук специальность 01.04.05 <Оптика>
Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математческих наук специальность 01.04.05 <Оптика>
Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света : : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.05
1# $a: Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света $e: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математческих наук $e: специальность 01.04.05 <Оптика> $f: Ермаков Виктор Анатольевич $g: [С.-Петерб. гос. ун-т информ. технологий, механики и оптики]
210
## $a: Санкт-Петербург $d: 2011
215
## $a: 19 с. $c: ил. $d: 21
320
## $a: Библиогр.: с. 18-19 (7 назв.)
675
## $a: 535 $v: 3 $z: rus
686
## $a: 29.31 $2: rugasnti
686
## $a: 22.34 $2: rubbk
686
## $a: 01.04.05 $2: oksvnk
700
#1 $a: Ермаков $b: В. А. $g: Виктор Анатольевич $4: 070