Электронно-микроскопические исследования влияния температурных режимов роста на микроструктуру и морфологию квантовых точек в системе InAs-(Al)GaAs автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. спец. 01.04.10
Электронно-микроскопические исследования влияния температурных режимов роста на микроструктуру и морфологию квантовых точек в системе InAs-(Al)GaAs автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. спец. 01.04.10
Электронно-микроскопические исследования влияния температурных режимов роста на микроструктуру и морфологию квантовых точек в системе InAs-(Al)GaAs автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. спец. 01.04.10
1# $a: Электронно-микроскопические исследования влияния температурных режимов роста на микроструктуру и морфологию квантовых точек в системе InAs-(Al)GaAs $e: автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. $e: спец. 01.04.10 $f: Черкашин Николай Анатольевич $g: Рос. акад. наук, Физико-техн. ин-т им. А.Ф. Иоффе
210
## $a: СПб. $c: б.и. $d: 2002
215
## $a: 17 с. $c: ил. $d: 21
320
## $a: Библиогр.: с. 16-17 (12 назв.)
325
## $a: Копия доступна в Электрон. б-ке РНБ
686
## $a: 01.04.10 $2: oksvnk
700
#1 $a: Черкашин $b: Н. А. $g: Николай Анатольевич $4: 070