,
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазменной микроскопии : учеб. пособие / С.И. Валянский, Е.К. Наими ; под ред. Д.Е. Капуткина
М. : Издат. дом МИСиС, 2011
,
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазменной микроскопии : учеб. пособие / С.И. Валянский, Е.К. Наими ; под ред. Д.Е. Капуткина
М. : Издат. дом МИСиС, 2011
Детальная информация
Код документа в НЭБ
000219_000026_RU_ГПНТБ России_IBIS_0000593090
Автор(ы)
Заглавие
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазменной микроскопии : учеб. пособие / С.И. Валянский, Е.К. Наими ; под ред. Д.Е. Капуткина
Место издания
М. : Издат. дом МИСиС
Год издания
2011
Ответственность
Ключевые слова
Валянский
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазменной микроскопии : учеб. пособие / С.И. Валянский, Е.К. Наими ; под ред. Д.Е. Капуткина » , автор — Валянский С.И., Наими Е.К.. Документ был опубликован в 2011 году. Место издания — М. : Издат. дом МИСиС. Информация о документе предоставлена в НЭБ библиотекой "Государственная публичная научно-техническая библиотека России". Фонд библиотеки расположен по адресу: 123298, Москва, 3-я Хорошевская ул., д.17.