Гамма-дефектоскоп
Гамма-дефектоскоп
О произведении
Язык
Русский
Еще
МПК
G01N 23/18
Еще
Заявитель
Балашов А.В., Голянов И.М., Злобин И.А., Попова А.В., Тарасов В.А.
, Шапаренко Е.Е.
Еще
Код вида документа
Описание изобретения к авторскому свидетельству
Еще
Портал НЭБ предлагает вам прочитать онлайн или скачать патент «Гамма-дефектоскоп», заявителя Балашов А.В., Голянов И.М., Злобин И.А., Попова А.В., Тарасов В.А., Шапаренко Е.Е. Содержит 3 ст. Язык: «Русский».
Выражаем благодарность библиотеке «Федеральный институт промышленной собственности, отделение ВПТБ» за предоставленный материал.