Кристаллография. 1982. Том 27, вып. 4 Влияние погрешностей в амплитудах когерентного рассеяния нейтронов на X-N-деформационную электронную плотность в кристалле
Кристаллография. 1982. Том 27, вып. 4 Влияние погрешностей в амплитудах когерентного рассеяния нейтронов на X-N-деформационную электронную плотность в кристалле
Библиографическое описание
Цирельсон, В.Г.. Кристаллография. 1982. Том 27, вып. 4. Влияние погрешностей в амплитудах когерентного рассеяния нейтронов на X-N-деформационную электронную плотность в кристалле / Цирельсон В.Г., Нозик Ю.З.. — с. 661-663.
Детальная информация
Код документа в НЭБ
005894_000147_002183976
Каталог
Автор
Заглавие
Кристаллография. 1982. Том 27, вып. 4 Влияние погрешностей в амплитудах когерентного рассеяния нейтронов на X-N-деформационную электронную плотность в кристалле
Объем
с. 661-663
Ответственность
Цирельсон В.Г., Нозик Ю.З.
Библиотека
LDR
00961nab a2200253 c 4500
001
002183976
003
RuMoBEN
005
20240514115310.0
008
231124s1982 ru |||p|||||||||||||rus d
035
##
$a: (ELAR) [2023] 3851
$a: (ELAR) [2023] 3851
040
##
$a: RuMoBEN
$b: rus
$a: RuMoBEN
$b: rus
041
##
$a: rus
$a: rus
044
##
$a: ru
$a: ru
080
##
$a: 548.736
$2: ruudk
$a: 548.736
$2: ruudk
100
1#
$a: Цирельсон, В.Г.
$a: Цирельсон, В.Г.
700
1#
$a: Нозик, Ю.З.
$a: Нозик, Ю.З.
245
1#
$a: Влияние погрешностей в амплитудах когерентного рассеяния нейтронов на X-N-деформационную электронную плотность в кристалле
$c: Цирельсон В.Г., Нозик Ю.З.
$a: Влияние погрешностей в амплитудах когерентного рассеяния нейтронов на X-N-деформационную электронную плотность в кристалле
$c: Цирельсон В.Г., Нозик Ю.З.
300
##
$a: с. 661-663
$a: с. 661-663
773
##
$7: nnas
$t: Кристаллография. 1982. Том 27, вып. 4
$g: с. 661-663
$w: 000464469
$7: nnas
$t: Кристаллография. 1982. Том 27, вып. 4
$g: с. 661-663
$w: 000464469
850
##
$a: RuMoBEN
$a: RuMoBEN
856
11
$q: application/pdf
$u: https://viewer.benran.ru/ru/ben01002183976
$q: application/pdf
$u: https://viewer.benran.ru/ru/ben01002183976