LDR
01479nam a2200277 i 4500
008
070705s2007 ru |||| a |00 u rus d
035
##
$a: (RuMoRGB)DIS-0770554
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
072
#1
$a: 05.11.14
$2: nsnr
072
#1
$a: 05.02.08
$2: nsnr
100
1#
$a: Игонина, Татьяна Ивановна
245
##
$a: Технологическое обеспечение качества поверхности полупроводниковых пластин информационно-измерительных устройств :
$b: автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.11.14, 05.02.08
$c: Игонина Татьяна Ивановна; [Место защиты: Пенз. гос. ун-т]
650
#1
$a: Технология приборостроения
$2: nsnr
650
#1
$a: Технология машиностроения
$2: nsnr
720
1#
$a: Пензенский государственный университет
787
11
$w: 003321407
$i: Диссертация
856
11
$q: application/pdf
$u: http://dlib.rsl.ru/rsl01003000000/rsl01003059000/rsl01003059473/rsl01003059473.pdf
$y: Читать
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Технологическое обеспечение качества поверхности полупроводниковых пластин информационно-измерительных устройств : автореферат дис. кандидата технических наук : 05.11.14, 05.02.08 » , автор — Игонина Т.И.. Документ был опубликован в 2007 году. Место издания — Пенза. Электронный ресурс – электронная копия документа предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5. На сайте rusneb.ru Вы можете читать онлайн оцифрованную версию документа « Технологическое обеспечение качества поверхности полупроводниковых пластин информационно-измерительных устройств : автореферат дис. кандидата технических наук : 05.11.14, 05.02.08 » в удобной системе просмотра документов. Документ также доступен для скачивания в форматах: pdf.