LDR
01223nam a2200265 i 4500
008
200310s1967 ru |||| a |00 u rus d
017
##
$a: д7406-68
$b: RuMoRGB
040
##
$a: RuMoRGB
$b: rus
$c: RuMoRGB
072
#1
$a: 05.00.00
$2: nsnr
084
##
$a: З852.2-021.1,0
$2: rubbk
100
1#
$a: Попеначенко, Валентин Иванович
245
##
$a: Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов :
$b: диссертация ... кандидата технических наук : 05.00.00
$c: В.И.Попеначенко
260
##
$a: Ленинград
$c: 1967
504
##
$a: Библиогр.: с. 151-155
650
#1
$a: Технические науки
$2: nsnr
720
1#
$a: Киевский политехн. ин-т им. 50-летия Великой Октябрьской соц. революции
787
11
$w: 006451730
$i: Автореферат
852
1#
$a: РГБ
$b: OD
$c: HL03
$j: Дк 68-5/994
$x: 39
LKR
##
$a: PAR
$l: RSL01
$b: 006451730
$m: Диссертация
$n: Автореферат
Национальная электронная библиотека (НЭБ) предлагает Вам ознакомиться с подробной информацией о документе: « Неразрушающий метод контроля надежности полупроводниковых диодов : диссертация . кандидата технических наук : 05.00.00 » , автор — Попеначенко В.И.. Документ был опубликован в 1967 году. Место издания — Ленинград. Информация о документе предоставлена в НЭБ библиотекой "Российская государственная библиотека". Фонд библиотеки расположен по адресу: 119019, Москва, ул. Воздвиженка, 3/5.